-
- نویز حرارتی ترانزیستورها
-
- از آنجایی که ماسفتها مقاومتهایی کنترل شده با ولتاژند، مقاومت کانال آنها نویز حرارتی
-
-
- تولید می کنند. اگر ترانزیستور در ناحیهی تریود باشد، جریان نویز حرارتی در درین ناشی از مقاومت کانال، براحتی از رابطه بدست می آید که در آن مقاومت کانال میباشد. اگر ترانزیستور در ناحیهی فعال باشد، نمی توان کانال را همگن درنظر گرفت. بنابراین کل نویز با انتگرالگیری روی قسمت های کوچک کانال بدست می آید. این منبع نویز را میتوان با یک منبع جریان موازی با درین-سورس ترانزیستور مدل کرد. چگالی طیف توان این منبع نویز به صورت زیر تعریف می شود.
-
که در آن ترارسانایی کانال است. ضریبی است که برای ترانزیستورهای تکنولوژی با طول کانال بلند برابر با است و برای ماسفتهای زیر میکرون با مقادیر بزرگتر جایگزین می شود[۳] و [۱۶]. همانطور که از رابطه (۲-۲۷) نیز مشاهده می شود با کاهش ترارسانایی ترانزیستور میتوان اثر این نویز را کاهش داد. شکل (۲-۲۸) نمایش این نویز در ترانزیستور را نشان میدهد.
نمایش نویز حرارتی یک ترانزیستور
-
- نویز شاتکی
نویز شاتکی[۱۸] همیشه با جریان مستقیم و در دیود، ماسفت و ترانزیستور دوقطبی همراه است. شکل (۲-۲۹) تراکم حاملها در دیود دارای بایاس مستقیم را نشان میدهد.
جریان مستقیم دیود I از حفرههای ناحیهی p و الکترونهای ناحیهی n ناشی می شود، البته آنهایی که انرژی کافی برای غلبه بر سد پتانسیل را دارند. عبور هر حامل از پیوند که می تواند به صورت یک
(a): بایاس مستقیم پیوند pn . (b): غلظت حاملها در دیود
رخداد تصادفی مدل شود، به این بستگی دارد که حامل چقدر انرژی دارد و مولفهی سرعت آن در جهت عمود بر پیوند چقدر است. بنابراین جریان خارجی I که جریانی پیوسته به نظر میرسد، در واقع از تعدادی زیادی پالس جریان تصادفی و مستقل تشکیل شده است.
اگر جریان روی یک اسیلوسکوپ حساس مشاهده شود، به صورت شکل (۲-۳۰) دیده می شود، ID مقدار متوسط جریان است. تغییرات I نویز شاتکی نامیده می شود.
جریان دیود به صورت تابعی از زمان
بنابراین دوشرط لازم باید برقرار شود تا شات نویز حاصل گردد. ابتدا باید یک جریانDC برقرار شده و سپس سد پتانسیلی جلوی حرکت حاملهای بار وجود داشته باشد. بر این اساس انتظار میرود که جریان شات نویز به بار الکترون، کل جریان DC برقرار شده و پهنای باند وابسته باشد. در حقیقت شات نویز به کلیه این عوامل وابسته است. پس داریم
که q بار الکترون و برابر با ، Idc جریان برحسب آمپر و پهنای باند نویز برحسب هرتز است [۳] و [۲].
-
- نویز فلیکر
نویز یا فلیکر[۱۹] یکی دیگر از منابع مهم نویز در نوسانسازهای CMOS میباشد که از آن با نام نویز لرزان ترانزیستورهای ماسفت نیز یاد می شود و به صورت یک منبع ولتاژ سری با گیت مدل می شود. طیف نویز به صورت معکوس با فرکانس رابطه دارد و این باعث می شود تنها در فرکانسهای پایین و فرکانسهای حوالی حامل دارای مقدار قابل ملاحظه باشد.
منشا این نویز در ترانزیستور MOS را نیز میتوان بدین شکل توضیح داد ]۳[: در محل اتصال اکسید گیت و زیربنای[۲۰] سیلیکانی در ماسفت معمولاً تعدادی پیوند آویزان وجود دارند که حالتهای انرژی اضافه تولید می کنند، شکل (۲-۳۱). وقتی که حاملهای بار در این محل حرکت می کنند، تعدادی از آنها بطور تصادفی به دام میافتند و بعد دوباره آزاد میشوند که این فرایند باعث ایجاد نویز فلیکر در جریان درین می شود. اعتقاد بر این است که چند ساز و کار دیگر نیز علاوه بر این در تولید نویز فلیکر موثرند[۱۵]
پیوندهای آویزان در مرز اکسید سیلیکن[۳]
بر خلاف نویز حرارتی توان متوسط نویز فلیکر را نمی توان به آسانی پیشگویی کرد. بسته به تمیزی مرز اکسید سیلیکان، نویز فیلکر مقادیر متفاوتی خواهد داشت و از یک فرایند CMOS به فرایند دیگر آن تغییر می کند. نویز فلیکر را به صورت یک منبع ولتاژ سری با گیت مدل می کنند و تقریبا برابر است با
K یک مقدار ثابت وابسته به فرایند ساخت است و در حدود (V2F) 10-25 میباشد. توجه شود که پهنای باند ۱Hz است. برخلاف نویزهای دیگر، چگالی طیفی نویز فلیکر با فرکانس نسبت عکس دارد. به عنوان مثال، پدیده به دام اندازی و رهایش مربوط به پیوندهای آویزان در فرکانسهای کمتر بیشتر روی میدهد و به همین دلیل نویز فیلکر را نویز ۱/f نیز مینامند. رفتار فرکانس پایین این نویز در شکل (۲-۳۲) نشان داده شده است
مشخصه نویز یک ترانزیستور
وابستگی معکوس معادله (۲-۲۹) بهL و W بیانگر آن است که برای کاهش نویز، سطح ترانزیستور باید افزایش یابد. این در حالی است که امروزه با پیشرفت تکنولوژی CMOS طول ترانزیستورها در حال کاهش است. همچنین ادوات PMOS نیز نویز ۱/fکمتری نسبت به NMOS دارند زیرا در ترانزیستورهای PMOS، حفرهها از طریق یک کانال مدفون حرکت می کنند که از مرز اکسید سیلیکان فاصله دارد [۳].